سطح‌سنج نانومتری سه‌بعدی نوری
سطح‌سنج نانومتری سه‌بعدی نوری
| مدل: | SSP-001 |
|---|---|
| وزن: | 200 کیلوگرم |
| روش اندازه گیری رویه ی سه بعدی: | تداخل‌سنجی نور سفید روبشی , تداخل‌سنجی انتقال فازی |
| عدسی شیئی میکروسکوپی: | میرائو و لینیک - x۱۰ ، x۲۰ ، x۴۰ و x۵۰ (بسته به طراحی) |
| میدان دید (شیئی x۱۰): | میلی متر ۱ × ۱ |
| دوربین: | 5 مگاپیکسل , تک رنگ |
| منبع نوری: | ال ای دی با شدت و دریچه متغیر |
| طول‌موج مرکزی منبع‌نور: | nm ۶۵۰ - ۶۲۰ |
| نوع جابجاگر محوری: | پیزوالکتریک |
| نوع حس‌گر جابجاگر محوری: | خازنی/مقاومتی |
| دامنه ی حرکتی در جابجاگر محوری: | ۱۰۰ - ۰ میکرومتر |
| دقت هر گام در جابجاگر محوری: | nm۱ (مدار باز) و کمتر از nm۱ (مدار بسته) |
| پایداری در مکان جابجاگر محوری: | 1 نانومتر |
| کوچک ترین گام حرکتی محوری: | 1 نانومتر |
| جابجاگر نمونه: | جابجاگر خطی دستی سه‌بعدی |
| دقت هر گام در جابجاگر نمونه (هر محور): | 10 میکرومتر |
| دامنه ی حرکتی جابجاگر نمونه (هر محور): | 200 میلی متر |
| چرخنده (زاویه q): | دستی |
| دقت چرخنده (زاویه q): | arcmin ۱۰ |
| چرخنده (زاویه f): | موتوری |
| دقت چرخنده (زاویه f): | arcmin ۱ |
| قابلیت کنترل: | کامپیوتری/کاربر (نرم افزار) |
| نگه دارنده ی نمونه: | قابلیت ساخت سفارشی بر اساس نیاز مشتری |
| رابط کاربری: | قابلیت کنترل تمام خودکار دستگاه در تمام مراحل داده‌گیری , مشاهده برخط (آنلاین) تصویر میکروسکوپی نمونه |
| کمیت‌های خروجی: | ابرنقاط، تعیین رویه، میزان مواج بودن، ناهمواری سطح نمونه، خروجی MATLAB، Excel و ... |
| سیستم‌عامل مورد نیاز: | ویندوز ۷، ۸ و ۱۰ |
| صحت اندازه‌گیری عمقی (Axial Accuracy): | نانومتر 30 > |
| صحت اندازه‌گیری جانبی (شیئی x۱۰) (Lateral Accuracy): | نانومتر630 > |
| دقت/تکرارپذیری (Repeatability): | نانومتر100> |
| بازتاب دهندگی نمونه: | ٪ ۱۰۰ - ۴٪ |
| خصوصیت نمونه: | شفاف، مات، لایه نشانی شده/نشده، زبر، آینه مانند |
| دمای کاری: | درجه 10 - ۳۰ درجه |
| رطوبت مجاز: | ٪ ۵۰ - ۵٪ |
| میز ضد ارتعاش: | نیاز دارد |
| ولتاژ کاری: | Hz۵۰ / V ۲۲۰ |
| ابعاد (عرض، طول و ارتفاع): | قسمت اپتیکی: cm3۵۰×۴۰×۳۰ , قسمت کنترل: cm3۱۳۰×۸۰×۵۰ |
در سال‌های اخیر، فن‌آوری‌های نانو رشد چشم‌گیری در دنیا داشته‌اند. این نسل جدید از فن‌آوری‌ها، به ابزارهای مخصوص خود برای اندازه‌گیری و مشخصه‌یابی در مقیاس نانومتر نیاز دارند.
میکروسکوپ‌ها ابزار خوبی برای رصد کردن و مشاهده سطوح محصولات بسیار ریز در ابعاد نانومتر هستند، ولی میکروسکوپهای متداول، تنها تصاویری دوبعدی از نمونه تولید می‌کنند و قادر به مشاهده و تعیین میزان پستی و بلندی‌های نمونههای مورد آزمون نیستند.
به‌طور کلی ابزارهای اندازه‌گیری در مقیاس نانو بر دو پایه الکترونیک و اپتیک طراحی و ساخته می‌شوند. از میان میکروسکوپ‌هایی که بر پایه الکترونیک طراحی شده‌اند، می‌توان به میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ روبشی اشاره کرد، که علی‌رغم ویژگی‌هایی که دارند با مشکلات تخریب‌کنندگی، سرعت پایین، وسعت دید پایین و هزینه بالا مواجه هستند. در مقابل، فن‌آوری اندازه‌گیری بر پایه اپتیک ویژگیهای سرعت بالا، وسعت دید بالا و دقت بالا را به طور هم‌زمان دارا است. این روش کاملا غیرمخرب بوده، هیچ آسیبی به قطعه مورد اندازه‌گیری وارد نمی‌کند و نیز می‌تواند اختلاف ارتفاع‌های بزرگ را نیز اندازه‌گیری کند.
دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری نوری ساخته شده توسط شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، نمونهای بسیار توسعه‌یافته از ابزارهای اندازه‌گیری سه‌بعدی در مقیاس نانو بر پایه اپتیک است. این دستگاه بر اساس پدیده تداخل و در دو مد تداخل‌سنجی میکروسکوپی نور سفید و تداخل‌سنجی جابجایی فاز عمل کرده و شکل و ناصافی سطوح را با دقت نانومتر اندازه‌گیری می‌کند. سرعت بالا، دقت و تکرارپذیری نانومتری از دیگر ویژگیهای این محصول است. از آن‌جایی‌که اساس کار این دستگاه، اپتیکی است، روشی غیرتماسی، غیرمخرب و دقیق است و در مقایسه با دستگاه‌های با کاربری مشابه از هزینه کمتری برخوردار است. خروجی این دستگاه، رویه سه‌بعدی از نمونه آزمون به‌صورت کمی است. از این ویژگی در صنایعی مانند ساخت هواپیما، خودرو و توربینهای بخار که بررسی خوردگی و ترک در قطعات آنها از اهمیت ویژهای برخوردار است، استفاده می‌شود.
با توجه به سطح بالای فن‌آوری مورد استفاده، این دستگاه در کشورهای معدودی از جمله آمریکا و آلمان تولید و برای استفاده در صنایعی مانند متالورژی، مکانیک، علوم‌زیستی و اپتیک به بازار عرضه می‌شود. دستگاه ساخته شده در شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، کاملترین و دقیقترین دستگاه از نوع خود در داخل کشور و منطقه است و از کیفیت و قیمت بسیار رقابتی در مقایسه با نمونههای مشابه خارجی برخوردار است.
مزیت رقابتی دستگاه سطح‌سنج نانومتری نوری ساخت شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن را نسبت به‌دیگر دستگاه‌ها مانند AFM و انواع میکروسکوپهای روبشی تماسی می‌توان به‌صورت زیر خلاصه کرد:
- غیرتماسی و غیرمخرب بودن.
- تعیین رویه سه‌بعدی نمونه به‌صورت یک‌جا.
- تعیین سه‌بعدی عوارضی مانند شکستگی‌ها، پله‌ها و تغییرات تند ارتفاعی در نمونه.
- تعیین دینامیک سه‌بعدی نمونه‌ها.
- سرعت داده‌برداری بالا نسبت به دیگر محصولات مشابه.
- تعیین شکل، موج‌دار بودن و زبری سطح نمونه با دقت نانومتری.
- قابلیت داده‌برداری از نمونه در حالت بازتابی حتی از نمونههای با بازتابندگی کم (۴٪).
| {{x.rating_title}} | {{x.rate}} |
برای ثبت نظر، ابتدا به حساب کاربری خود وارد شوید
نظرات کاربران:
{{comment.comment}}
{{comment.add_time | jdate}}
{{comment.creator_name}}
