| مدل: |
SSP-001 |
| وزن: |
200 کیلوگرم |
| روش اندازه گیری رویه ی سه بعدی: |
تداخل‌سنجی نور سفید روبشی , تداخل‌سنجی انتقال فازی |
| عدسی شیئی میکروسکوپی: |
میرائو و لینیک – x۱۰ ، x۲۰ ، x۴۰ و x۵۰ (بسته به طراحی) |
| میدان دید (شیئی x۱۰): |
میلی متر ۱ × ۱ |
| دوربین: |
5 مگاپیکسل , تک رنگ |
| منبع نوری: |
ال ای دی با شدت و دریچه متغیر |
| طول‌موج مرکزی منبع‌نور: |
nm ۶۵۰ – ۶۲۰ |
| نوع جابجاگر محوری: |
پیزوالکتریک |
| نوع حس‌گر جابجاگر محوری: |
خازنی/مقاومتی |
| دامنه ی حرکتی در جابجاگر محوری: |
۱۰۰ – ۰ میکرومتر |
| دقت هر گام در جابجاگر محوری: |
nm۱ (مدار باز) و کمتر از nm۱ (مدار بسته) |
| پایداری در مکان جابجاگر محوری: |
1 نانومتر |
| کوچک ترین گام حرکتی محوری: |
1 نانومتر |
| جابجاگر نمونه: |
جابجاگر خطی دستی سه‌بعدی |
| دقت هر گام در جابجاگر نمونه (هر محور): |
10 میکرومتر |
| دامنه ی حرکتی جابجاگر نمونه (هر محور): |
200 میلی متر |
| چرخنده (زاویه q): |
دستی |
| دقت چرخنده (زاویه q): |
arcmin ۱۰ |
| چرخنده (زاویه f): |
موتوری |
| دقت چرخنده (زاویه f): |
arcmin ۱ |
| قابلیت کنترل: |
کامپیوتری/کاربر (نرم افزار) |
| نگه دارنده ی نمونه: |
قابلیت ساخت سفارشی بر اساس نیاز مشتری |
| رابط کاربری: |
قابلیت کنترل تمام خودکار دستگاه در تمام مراحل داده‌گیری , مشاهده برخط (آنلاین) تصویر میکروسکوپی نمونه |
| کمیت‌های خروجی: |
ابرنقاط، تعیین رویه، میزان مواج بودن، ناهمواری سطح نمونه، خروجی MATLAB، Excel و … |
| سیستم‌عامل مورد نیاز: |
ویندوز ۷، ۸ و ۱۰ |
| صحت اندازه‌گیری عمقی (Axial Accuracy): |
نانومتر ۵ > |
| صحت اندازه‌گیری جانبی (شیئی x۱۰) (Lateral Accuracy): |
نانومتر630 > |
| دقت/تکرارپذیری (Repeatability): |
نانومتر100> |
| بازتاب دهندگی نمونه: |
٪ ۱۰۰ – ۴٪ |
| خصوصیت نمونه: |
شفاف، مات، لایه نشانی شده/نشده، زبر، آینه مانند |
| دمای کاری: |
درجه 10 – ۳۰ درجه |
| رطوبت مجاز: |
٪ ۵۰ – ۵٪ |
| میز ضد ارتعاش: |
نیاز دارد |
| ولتاژ کاری: |
Hz۵۰ / V ۲۲۰ |
| ابعاد (عرض، طول و ارتفاع): |
قسمت اپتیکی: cm3۵۰×۴۰×۳۰ , قسمت کنترل: cm3۱۳۰×۸۰×۵۰ |
